BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона
  • BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

30 036 руб.

Описание

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

A. Описание контроллера silicon motion (SMI SSD)

1. Особенности

• Высокопроизводительный контроллер флэш-памяти с 4-канальным/8-канальным интерфейсом

• Поддержка PCIe Gen3 x4 NVMe 1,3 и SATA 6 ГБ/сек.

• Сквозная защита пути передачи данных

• Приоритет NANDXtend erro-Корректировка и технология защиты данных

• DRAM ECC и SRAM ECC

• Последние протоколы безопасности, в том числе AES 256, надежная компьютерная группа (TCG) и опал полный диск шифрования

• Мировое выравнивание износа для продления срока службы продукта

• Гибкая конфигурация флэш-памяти

• Усовершенствованная система ESD дизайн

• Внутренняя схема обнаружения напряжения

• Доступен в коммерческом и промышленном уровне

2. Флэш-память

• Поддержка до 8-16 контактов для вспышки CE на канал

• Поддержка новейших samsung, Toshiba, SanDisk, Micron, Intel, SK Hynix MLC, TLC и SLC Flash

3. Преимущества для пользователя

• Высокая производительность передачи данных с флеш-карты

• Отличная надежность данных и надежность продукта

• Высокая производительность совместимости с более чем 200 популярными потребительскими электронными устройствами и ПК

4. Области применения

Твердотельные накопители SATA и PCIe для клиентов, предприятий, центров обработки данных и встроенных приложений

B. SM2246EN Описание тестового решения SSD

Название продукта: SM2246EN тест NAND flash тест решение

Стандарты хоста: SATA 6 ГБ/сек. (Версия 3,1);

Флэш-память Интерфейс: 4-CH

Интерфейс PCB: для подключения компьютера-порт SATA, для флеш-чипа NAND socket-BGA272 pad

Поддержка ECC: настраиваемый BCH ECC;

Поддержка напряжения: 3,3 В

Динамическое ОЗУ: да;

TCG/AES: да;

Приложения: SATA и PCIe SSDs NAND flash тест только для BGA272 NAND flash IC.

Советы:

1. Нет необходимости в сварке, тестовая доска может быть легко изменена, выпуская четыре винта для различных тестовых решений

2. Свяжитесь непосредственно с припоем, не нужно pinboard структура, небольшое сопротивление, небольшое затухание, стабильный тест

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфонаBGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфонаBGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфонаBGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфонаBGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфонаBGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

Горячий товар

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона BGA132/BGA152/BGA88/BGA136 к DIP48 адаптер IC тестовая розетка гореть в розетке программатор розетка с платформой раскладушка структура

$69,8

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона KZT SSD SM2246EN bga132/152/88 флэш-тест, тестовое гнездо, раскладушка, структура, интерфейс SATA, отличное качество

$58,8

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона Флэш-чип пакетный тестер для U диск флэш-зазор второго класса или recule чипы BGA152 BGA132 BGA100 BGA88 LGA52 TSOP48

$88

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона BGA132/BGA152 тестовое гнездо к DIP96 адаптеру для SSD 8CE тестовое гнездо раскладушки BGA152 флэш-память запись в тестовом IC Размер опционально

$105,8

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона BGA272 тестовое приспособление SSD тест-решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона

$170

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона SSD 2 в 1 многофункциональная тестовая плата BGA152/132/100/88 TSOP48 NAND Flash тестовая схема SM2258H контроллер флэш-памяти

$45

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона BGA316 TSOP48 к DIP48 clamshell тестовое приспособление с SM2256K главный контроллер для тестирования SSD чипов и открытой карты

$218

BGA272 сплав раскладушка Pogopin тестовое приспособление SSD Flash тестовое решение SM2246EN два в одном тестовая плата для восстановления даты смартфона BGA316 TSOP48 к DIP48 тестовое решение SM2256K главный контроллер для тестирования SSD чипов и открытой карты

$348

Характеристики

Номер модели
BGA272 Test Fixture
Condition
New
Structure
Alloy Clamshell
Contact Type
Pogopin